资产编号 NERCN-TC-007
仪器名称
X-射线衍射仪  状态【在用
英文名称
规格/型号 */D/max-2600PC 
生产厂商 理学
国别 日本
所属单位 分析测试中心>>2-105 放置地点 2-105(2-105)
负责人 罗超 邮箱:暂无
罗超 邮箱:暂无
方立文 邮箱:暂无
使用日期 2010/3/6 电子邮箱
性能指标 1、最大输出功率: 9kW(45KV/200mA) 2、2θ扫描范围:5-125° 3、可读最小步长:0.0001° 4、角度重现性:0.0001° 5、高温原位附件最高温度可达到1350℃
主要应用 多孔材料、半导体材料、矿物、文物、电池填充材料、药物等结晶物质的性能与结构关联的研究及材料结构表征。
样品要求 1、样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试(有可能测试到基底,请悉知)。 2、粉末样品:颗粒一般不超过75微米,手摸无颗粒感,较大需要适当研磨,样品用量一般0.5g以上。 3、块状、薄膜样品:(1)至少有一表面为平整光洁平面。(2)若为立方体则平面长宽≤20mm,且厚度范围50微米~15毫米;(3)若为圆柱体则直径≤20mm,高≤15mm;一定要标明测试面!
仪器说明 用于样品的物相定性或定量分析,晶体结构分析,材料的织构分析,宏观应力或微观应力的测定,晶粒大小测定,结晶度测定等。另有附件半导体阵列高速探测器、高温原位反应炉。
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